Ram Stress Test 使用说明
闪动数字——0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF依次代表内存条的8颗颗粒。
从左到右横着数:0-7代表第1颗粒区域、8-F代表第2颗粒、0-7代表第3颗粒、8-F代表第4颗粒、0-7代表第5颗粒代、8-F代表第6颗粒、0-7代表第7颗粒、8-F代表第8颗粒
1、DDR 8位与16位的单面测法:
⑴: 0-7(1 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第1颗粒已经损坏
⑵:8-F(2 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第2颗粒已经损坏
⑶:0-7(3 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第3颗粒已经损坏
⑷:8-F(4 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第4颗粒已经损坏
⑸:0-7(5 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第5颗粒已经损坏
⑹:8-F(6 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第6颗粒已经损坏
⑺:0-7(7 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第7颗粒已经损坏
⑻:8-F(8 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第8颗粒已经损坏
注意DR的颗粒排列循序是1-2-3-4-5-6-7-8
2、如果你是128M的双面DDR内存,如以上显示界面图:
1-16M
16-32M
32-48M
48-64M
从1M到64M的上面的4根虚线上出现乱码的话,说明这根内存的的第一面的颗粒有问题(判断哪个颗粒的好坏按照以上的说明)
64-80M
80-96M
96-112M
112-128M
从64M到128M的上面的4根虚线上出现乱码的话,说明这根内存的的第二面的颗粒有问题(判断哪个颗粒的好坏按照以上的说明)
注意:在内存的PCB板上的两边标着1与92的代表第一面,93与184的代表第二面。1-128M的8根虚线是用来区分两面区域的作用.
3、SD的8位与16位的单面测法:
⑴. 0-7(1)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第8颗粒已经损坏
⑵. 8-F(2)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第4颗粒已经损坏
⑶. 0-7(3)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第7颗粒已经损坏
⑷. 8-F(4)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第3颗粒已经损坏
⑸. 0-7(5)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第6颗粒已经损坏
⑹. 8-F(6)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第2颗粒已经损坏
⑺. 0-7(7)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第5颗粒已经损坏
⑻. 8-F(8)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第1颗粒已经损坏
(注: PCB板上从1到84为第一面,颗粒的排列顺序从1到84为8-7-6-5-4-3-2-1,切记注意)
4、通过以上的介绍,说明SD的双面是跟DDR的是一样的。但是颗粒的好坏判断要按照它们的排列循序来判断。
5、PCB板的短路或者虚焊的测法:如果在8根虚线上都出现乱码,说明这根内存的PCB板有问题。